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在近代的許多域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此,更加和迅速的測定給定薄膜的光學參數(shù)已變得更加迫切和重要。在實際作中可以利用各種傳統(tǒng)的方法測定光學參數(shù),如:布儒斯角法測介質膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度、度、非破壞性測量等優(yōu)點,因而,橢圓偏振法測量已在光學、半導體、生物、學等諸多域得到廣泛應用。
混凝土回彈測厚儀是根據(jù)沖擊回波的原理,針對在單面混凝土行厚度測量。沖擊回波法使用個傳感器測試記錄,沖擊在臨近傳感器表面產(chǎn)生的回波。對各種反射回波的數(shù)據(jù)行快速傅立葉變換(FFT)。在***波譜上顯示的每個定頻率都對應著個定的厚度和深度。
ZG-DJLC-A型樓板測厚儀,它突破傳統(tǒng)測試方法,取得了乎想象的測試度,給您耳目新的感覺。
本儀器是種便攜式測量儀,它能快速、無損傷、地行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭,可滿足多種測量的需要。
BTS-TT220采用了磁性測厚法,是種小型測量儀,它能快速、無損傷、頦地行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量??蓮V泛用于制業(yè)、金屬業(yè)、化業(yè)、商檢等檢測域。由于該儀器體積小,測頭與儀器體化,別適用于程現(xiàn)場測量。
該產(chǎn)品是采用單片機、度、示值穩(wěn)定、耗低、操作簡單方便、單探頭量程測量等優(yōu)點 ; 具有讀出、低電壓示等能 , 其性能達到當代儀器水平。