010-51658042010-51658042
PRODUCT我們相信好的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！
ARTICLES致力于成為更好的解決方案供應(yīng)商！
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量,利用電探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，從而提了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態(tài)的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。如有需要可加配測試臺使用。 本儀器廣泛應(yīng)用于太陽能單晶（多晶）廠家為硅材料的分選測試，半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
儀器以大規(guī)模集成電路為核心件,采用平面輕觸式開關(guān)控制,及各種作狀態(tài)LED示.應(yīng)用微計(jì)算機(jī)，利用GSZ-HQ-710E型測量數(shù)據(jù)處理器，使得測量讀數(shù)更加直觀、快速，并能實(shí)現(xiàn)晶片厚度自行修正，打印出預(yù)置和測量、計(jì)算數(shù)據(jù)。整套儀器體積小、耗低、測量度、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。
四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的用儀器。
當(dāng)前位置：