電電化學(xué)作站

更新時(shí)間：2012-11-06 | 點(diǎn)擊率：1104

電電化學(xué)作站型號(hào)；HAD-CS1350

CS系列電化學(xué)作站由速M(fèi)CU、度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、率恒電位/恒電儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道速16bit /度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以成恒電（位）化、動(dòng)電位（）掃描、意恒電（位）方波，多恒電（位）階躍、零電阻電計(jì)、電化學(xué)噪聲（電偶電）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測試等能，所有測量能均可定時(shí)自動(dòng)行，用于無人值守下的自動(dòng)測量。
    CS系列包括多種型號(hào)，可用于較大電和較槽壓的電化學(xué)測量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電輸出范圍為±，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電控制范圍：±5.0A；電測量下限為10pA。
    CorrTest^TM測試軟件是CS電化學(xué)作站的控制平臺(tái)，軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語保持致，中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研作。
    CorrTest^TM測試軟件還具有別針對材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，包括鈍化曲線自動(dòng)或人反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補(bǔ)償法。Corrtest^TM分析軟件則具有善的數(shù)據(jù)分析能，可對伏安曲線行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算，能對化曲線行電化學(xué)參數(shù)解析，包括化電阻R_p，Tafel斜率b_a，b_c，腐蝕電密度i_corr，腐蝕速率計(jì)算等，還可計(jì)算噪聲電阻Rn和率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
    CS系列電化學(xué)作站采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊，設(shè)備安裝簡單，即插即用。
    外形尺寸：36.5cm（寬）*30.5cm（深）*16cm（）     儀器重量：6.5Kg
應(yīng)用域
   1）研究電化學(xué)機(jī)理；物質(zhì)的定性定量分析；
    2）常規(guī)電化學(xué)測試，包括電合成、電沉積（電鍍）性能評價(jià)；
    3）能和能源材料（電池、電容器、納米材料、生物傳感器等）的機(jī)理和制備研究；
    4）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護(hù)效率快速評價(jià)以及氫滲測試等；
    5）金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)（包括水/混凝土/土壤等環(huán)境）中的腐蝕電化學(xué)測試。
儀器配置
    1）儀器主機(jī)1臺(tái)                                2） CorrTest測試與分析軟件1套
    3）用電解池（含鹽橋和排氣管）1套              4）鉑金電、參比電、作電各1支
    5）模擬電解池1個(gè)                              6）電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
    7）電電纜線1根                              8）電架（選配*）
    9）屏蔽箱（選配*）
標(biāo)與能方

                               硬件參數(shù)標(biāo)

恒電位電位控制范圍：±10V	恒電控制范圍：±5.0A
電位控制度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV	電控制度：0.1%×滿量程讀數(shù)
電位靈敏度：10mV（>100Hz）, 3mV（<10Hz）	電靈敏度：<10pA
電位上升時(shí)間：<1mS（<10mA）, <10mS（<2A）,<20mS（>2A）	電量程：2A～200nA, 共8檔
參比電輸入阻抗：10¹² W\|\|20pF	zui大輸出電：5.0A
槽壓：±15V	電掃描增量：1mA @1A/mS
CV 和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s	電位掃描時(shí)電位增量：0.1mV @1V/mS
CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s	DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
SWV頻率：0.001～100KHz	CV的zui小電位增量：0.075mV
AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz，	電與電位量程：自動(dòng)設(shè)置
DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1mS	低通濾波器：8段可編程
接口通訊模式：USB2.0

電化學(xué)阻抗測量標(biāo)

信號(hào)發(fā)生器
頻率響應(yīng)：10mHz～115KHz（CS1310/CS1350） 10mHz～1MHz（CS1360）	交信號(hào)幅值：0mV～2500mV
直偏壓：-10～+10V	DDS輸出阻抗：50W
波形：正弦波，三角波，方波	正弦波失真：<1%
掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降	zui大負(fù)載電容：1nF；zui大負(fù)載電感：10mH
信號(hào)分析器
積分時(shí)間：zui大值：10⁶個(gè)循環(huán)或者10⁵S	測量時(shí)間延遲：0～10⁵秒
zui小值：10mS 或者個(gè)循環(huán)的zui長時(shí)間
直偏置補(bǔ)償
電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍：-10V～+10V	電補(bǔ)償范圍：-1A～+1A
帶寬調(diào)整：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置, 共8可調(diào)

CS系列儀器不同型號(hào)能

能方法		CS1120	CS1150	CS1300	CS1310	CS1350	CS1360
穩(wěn) 態(tài) 化	開路電位測量（OCP）	•	•	•	•	•	•
	恒電位化	•	•	•	•	•	•
	恒電化		•	•	•	•	•
	動(dòng)電位掃描（DPP）	•	•	•	•	•	•
	動(dòng)電掃描（DGP）		•	•	•	•	•
暫態(tài) 化	意恒電位方波	•	•	•	•	•	•
	意恒電方波		•	•	•	•	•
	多電位階躍（VSTEP）	•	•	•	•	•	•
	多電階躍（ISTEP）		•	•	•	•	•
	快速電位脈沖						•
	快速電脈沖						•
計(jì) 時(shí) 分析	計(jì)時(shí)電位法（CP）			•	•	•	•
	計(jì)時(shí)電法（CA）			•	•	•	•
	計(jì)時(shí)電量法（CC）			•	•	•	•
伏安分析	線性掃描伏安法（LSV）	•	•	•	•	•	•
	循環(huán)伏安法（CV）	•	•	•	•	•	•
	階梯伏安法（SCV）			•		•	•
	差分脈沖伏安法（DPV）			•		•	•
	常規(guī)脈沖伏安法（NPV）			•		•	•
	方波伏安法（SWV）			•		•	•
	交伏安法（ACV）			•		•	•
	常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV）			•		•	•
	二次諧波交伏安（SHACV）			•		•	•
溶出伏安	恒電位溶出伏安			•		•	•
	線性溶出伏安			•		•	•
	階梯溶出伏安			•		•	•
	方波溶出伏安			•		•	•
	交溶出伏安			•		•	•
交阻抗	電化學(xué)阻抗（EIS）～頻率掃描				•	•	•
	電化學(xué)阻抗（EIS）～時(shí)間掃描				•	•	•
	電化學(xué)阻抗（EIS）～電位掃描				•	•	•
腐蝕測量	循環(huán)化曲線（CPP）	•	•	•	•	•	•
	線性化曲線（LPR）	•	•	•	•	•	•
	電化學(xué)噪聲（EN）	•	•	•	•	•	•
	電偶腐蝕測量（ZRA）	•	•	•	•	•	•
	氫擴(kuò)散測試（HDT）		•	•	•	•	•
電池測試	電池充放電測試		•	•	•	•	•
	恒電充放電		•	•	•	•	•
	恒電間歇充放電		•	•	•	•	•
擴(kuò) 展測量	盤環(huán)電測試			•	•	•	•
	數(shù)字記錄儀	•	•	•	•	•	•
	波形發(fā)生器			•	•	•	•
	圓盤電機(jī)控制			•	•	•	•

注：* 氫滲透測試中主動(dòng)式充氫需要另行配置CS1001A恒源使用或采用CS2350雙恒電位儀。

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