四探針檢測儀采用4.3寸大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購.
 

　　本品為解決四探針法測試低阻材料方阻及電阻率，z小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的z小值，采用度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安、使用方便;適用于生產企業(yè)、等院校、科研門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的種重要的具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人計算，并帶有溫度補償能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表;
 

　　四探針檢測儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，對數(shù)據(jù)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。選購：本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.
 

　　廣泛用于：覆蓋膜;導電分子膜，、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜(ITO導電膜玻璃等)，金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等。